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開催日時 2023年8月31日(木) 13:00-17:00
受講料 1名39,600円(税込)より
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★ポジ型のフォトレジストに限定し、各世代の露光機毎のフォトレジスト材料の構成と、その取り扱い上の注意点、および、そのプロセス条件依存性について解説!
★ポジ型フォトレジストのパターニング特性を左右する使用プロセスとフォトレジストのパターニング特性に与える影響因子とは?
01 ACE LABO. 山田 達也 氏
13:00-17:00
第1講
講 師
ACE LABO. 代表 山田 達也 氏
【プログラム】
1.ポジ型フォトレジスト材料(基礎)
1-1 フォトレジストの定義とポジレジスト/ネガレジスト概要
1-2 露光世代別ポジ型フォトレジストに使用されている構成原料概要
1-3 光化学反応とパターニングの原理
2.フォトリソグラフィプロセス概要とポジ型フォトレジストに求められる特性概要
3.ポジ型フォトレジストのパターニング特性を左右する使用プロセスとフォトレジストのパターニング特性に与える影響因子
3-1 塗布装置
3-2 ベーク(プリベーク、PEB、ポストベーク)装置
3-3 露光装置・マスク
3-4 現像装置
4.パターニング後のポジ型フォトレジストの適用プロセスとプロセス耐性に与える影響因子
4-1 ウェットエッチングプロセス
4-2 ドライエッチングプロセス
4-3 イオンインプラプロセス
4-4 めっきプロセス
4-5 リフトオフプロセス
5.フォトレジスト材料の取り扱い上の留意点
5-1 製造上の留意点
5-2 保管上の留意点
| セミナー番号 | S230806 |
|---|---|
| セミナー名 | 半導体フォトレジスト |
| 講師名 | ACE LABO. 代表 山田 達也 氏 |
| 開催日時 | 2023年08月31日(木) 13:00〜17:00 |
| 会場 | ※会社やご自宅のパソコンで視聴可能な講座です |
| 受講料 | 【1名の場合】39,600円(税込、資料作成費用を含む) |
| 定員 | 1名 |
| 備考 | 定員:30名 |