【講演主旨】

生成AIの普及に伴い、その計算能力を支える半導体の需要は急速に高まっている。電気自動車やスマートシティ、DXの進展により、半導体集積回路とそれを用いた電子機器の品質・信頼性・セキュリティは一層重要になっている。本講座では、半導体テストの意義やテスト設計、テスタ・プローバ・ハンドラ・プローブカード・テストソケットといったテストに用いる装置を含む全体像から、論理回路のテスト生成・テスト容易化設計までを、テスト品質とテストコストの両立という観点で解説する。さらに、高品質テスト、テストへのAI応用、テストとセキュリティの関わりなど、最近の国際会議の論文に基づく動向も紹介する。

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【プログラム】

1. 半導体テストの役割と全体像

　1-1 半導体のライフサイクルにおけるテストとその意義

　1-2 テストの種類

　1-3 テストコストとテスト品質の考え方

　1-4 テストに用いる装置（テスタ、プローバ、ハンドラ、プローブカード、テストソケット）

2. テスト設計技術

　2-1 故障モデルと故障シミュレーション

　2-2 テスト生成アルゴリズム

　2-3 テスト容易化設計（スキャン設計、組込み自己テスト）

3. テスト技術の動向

　3-1 高品質テスト技術（故障モデルの高度化、アナログテストの高品質化）

　3-2 テストへのAI応用（品質向上、コスト削減、歩留り向上）

　3-3 テストとセキュリティ（回路の難読化、偽造ICへの対策）

4. まとめ

質疑応答

【キーワード】
半導体テスト／テスト設計／テスタ／プローバ／ハンドラ／プローブカード／テストソケット／故障モデル／故障シミュレーション／テスト生成／テスト容易化設計（DFT）／スキャン設計／組込み自己テスト（BIST）／品質・信頼性／AI応用／ハードウェアセキュリティ

【講演のポイント】
●講演内容：テストの意義・テスト設計、テストに用いる装置・治具を含む全体像から、テスト生成・テスト容易化設計、高品質テスト、AI活用、セキュリティ対応までを一貫して学べる。
●講演者：テスト設計技術およびデバイスの品質・信頼性を専門とし、他社講習会「半導体テスト技術の基礎と動向」などでの講演実績をもつ講師が、テスト品質とコストを両立させる要点を解説する。

【習得できる知識】
・半導体テストに関する基礎知識
・論理回路テスト（テスト生成、テスト容易化設計）に関する一般知識
・テスト装置・治具とその役割に関する一般知識
・テスト品質とテストコストを両立させる考え方
・高品質テスト、AI応用、セキュリティ対応などテスト技術の動向