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酸化ガリウムパワー半導体 最新技術 ~材料育成・欠陥評価・薄膜成長・デバイス開発動向~

開催日時 2026年12月3日(木) 13:00-16:50

受講料 1名60,500円(税込)より

セミナー内容

★2026年12月3日WEBでオンライン開講。一般財団法人ファインセラミックスセンター 石川 由加里 氏、京都工芸繊維大学  西中 浩之 氏、大阪公立大学 東脇 正高 氏の3名が、酸化ガリウムパワー半導体 最新技術 ~材料育成・欠陥評価・薄膜成長・デバイス開発動向~ について解説する講座です。

■本講座の注目ポイント
 酸化ガリウムはSiC・GaNに続く次々世代パワー半導体として期待され、転位など結晶欠陥の三次元可視化技術が高性能デバイス実現の鍵となる。本講演では、非破壊で内部欠陥を立体的に捉える新光学イメージング法とX線トポグラフィー比較、転位形状解析、さらに大口径ウェハ高速検査への展望を示すとともに、Ga₂O₃の材料特性、応用領域、最新のデバイス研究開発動向について解説する。

【今回の登壇者】

  • 第1講:一般財団法人ファインセラミックスセンター:石川 由加里 氏「次世代パワー半導体酸化ガリウムの欠陥三次元イメージング技術開発」
  • 第2講:京都工芸繊維大学:西中 浩之 氏「ミストCVDによる酸化ガリウムの結晶多形制御」
  • 第3講:大阪公立大学:東脇 正高 氏「酸化ガリウムパワーデバイスの最新技術・研究開発動向と今後の展開(仮)」

講師紹介

プログラム

13:00-14:00

第1講

次世代パワー半導体酸化ガリウムの欠陥三次元イメージング技術開発

講 師

一般財団法人ファインセラミックスセンター 機能性材料G/特任主幹研究員 石川 由加里 氏

【プログラム】

 次世代パワー半導体として期待される酸化ガリウムでは、高性能・高信頼性デバイスの実現に向けて、結晶中に存在する転位などの欠陥を正確に把握することが重要です。本講演では、従来は観察が難しかった結晶内部の欠陥を、試料を壊すことなく三次元的に可視化する新しい光学イメージング技術について紹介します。放射光X線トポグラフィーとの比較による検証例や、転位の立体的な形状・傾きを捉えた結果を示しながら、将来の大口径ウエハ全面・高速検査への展開についてもわかりやすく解説します。


【章立て】
 1 β-Ga2O3パワー半導体と結晶欠陥


 2 結晶欠陥評価の従来技術


 3 位相差顕微鏡による転位観察


 4 β- Ga2O3転位の高速・高分解能イメージング


 5 転位の三次元イメージング


 6 ナノスケール表面欠陥への展開


 7 ウエハ全面検査への展開


 8 今後の展望


 質疑応答



【キーワード】
 β-Ga₂O₃(酸化ガリウム)、結晶欠陥(転位・点欠陥)、非破壊評価、位相差顕微鏡、三次元イメージング、高速・高分解能観察、X線トポグラフィー、欠陥分布・密度評価、ウエハ全面検査、高信頼性パワーデバイス化


【講演の最大のPRポイント】
 従来は困難だった酸化ガリウム内部の転位・欠陥を、試料を壊さず三次元で観察できる革新的イメージング技術を確立。ウエハ全面検査や高信頼性デバイス開発へ直結する実用性を解説します。



【習得できる知識】

 ・酸化ガリウム(β‑Ga₂O₃)が次世代パワー半導体として注目される理由と材料特性
 ・転位などの結晶欠陥がデバイス性能・信頼性に与える影響と、その重要性
 ・従来の欠陥評価技術(X線トポグラフィー等)の限界と課題
 ・非破壊・三次元で欠陥を可視化する新しい光学イメージング技術の原理と優位性
 ・ウエハ全面検査や高信頼性デバイス開発への応用可能性と今後の展望

14:10-15:25

第2講

ミストCVDによる酸化ガリウムの結晶多形制御

講 師

京都工芸繊維大学 電気電子工学系 / 教授 西中 浩之 氏

【プログラム】

 電気エネルギーの効率的な消費(消費電力エネルギーの削減)に向けて、電力制御に用いられるパワー半導体デバイスの役割が一つのカギを握ります。すなわち、パワー半導体デバイス自体で消費されるエネルギーが小さい、電力制御を効率的に行うことができる、といった特徴が求められます。Siに変わり、次世代半導体と呼ばれたSiC、GaNがこの特徴に叶う半導体材料として活発な研究が行われ、前者は電動自動車や電車、後者は電源アダプター等に実用化が進んできました。その意味では、もはや「次世代」半導体と言えないかもしれません。今後、さらに幅広い電力分野への適用、例えば10kV以上の電力機器や発送配電設備等での利用に向けて、次々世代半導体と呼ばれ、次世代半導体よりもバンドギャップの大きい半導体、例えば酸化ガリウム(Ga2O3)、窒化アルミニウム(AlN)、ダイヤモンド等への期待が高まっています。

 →本セミナーは、これらの中で注目されているGa2O3に焦点を当て、その特徴と開発の動向をについて具体的なお話をお伺いするものです。


【章立て】
 1. 酸化ガリウムの基礎物性
  1.1 酸化ガリウムのデバイス構造からみた開発のポイント
  1.2 酸化ガリウムの結晶多形

 2. ミストCVD法
  2.1 ミストCVD法の原理

 3. ミストCVDによる結晶多形制御
  3.1 β相でのミストCVDの適用例(混晶と不純物添加)
  3.2 α相でのミストCVDの適用例(混晶と不純物添加)
  3.3 κ相でのミストCVDの適用例(混晶と不純物添加)
  3.3 γ相、δ相のミストCVDの適用例

 4. まとめ

 質疑応答



【キーワード】
 ミストCVD 酸化ガリウム ワイドバンドギャップ半導体 結晶成長 パワー半導体


【講演者の最大のPRポイント】
 講演者は5つの酸化ガリウムの結晶多形の制御に唯一成功している。ミストCVDを用いて様々な酸化物半導体を扱っており、その経験を活かした結晶成長制御技術について解説する。



【習得できる知識】
 Au並みの導電性を持つ酸化物薄膜の開発および酸化ガリウムデバイスへの応用例
 ワイドバンドギャップ半導体で注目されている酸化ガリウムの結晶多形制御
 酸化ガリウムパワーデバイス開発のこれまでの流れと将来展望

15:35-16:50

第3講

酸化ガリウムパワーデバイスの最新技術・研究開発動向と今後の展開(仮)

講 師

大阪公立大学 大学院工学研究科 東脇 正高 氏

【プログラム】

製作中です。

開催概要

セミナー番号 S2612410
セミナー名 酸化ガリウムパワー半導体 最新技術
講師名 第1部 一般財団法人ファインセラミックスセンター 機能性材料G/特任主幹研究員 石川 由加里 氏
第2部 京都工芸繊維大学 電気電子工学系 / 教授 西中 浩之 氏
第3部 大阪公立大学 大学院工学研究科 東脇 正高 氏
開催日時 2026年12月03日(木) 13:00〜16:50
会場 ※会社やご自宅のパソコンで視聴可能な講座です
受講料

【1名の場合】60,500円(税込、テキスト費用を含む)
2名以上は一人につき、22,000円が加算されます。

定員 30名
備考

定員:30名

※ お申し込み後、受講票と請求書のURLが自動で返信されます。基本的にはこちらで受付完了です。開催前日16:00までに再度最終のご連絡をいたしますので、しばらくお待ちください。請求書と受講票は郵送ではないため必ずダウンロードください。また、同時に送られるWEBセミナー利用規約・マニュアルを必ずご確認ください。

※ セミナー前日夕方16:00までにWEB会議のURL、事前配布資料のパスワードについては、別途メールでご案内いたします。基本的には、事前配布資料はマイページからのダウンロードの流れとなります。なお、事前配布資料については、講師側の作成完了次第のお知らせになりますので、この点、ご理解のほどお願い申し上げます。

※ 請求書の宛名の「株式会社」や「(株)」の「会社名の表記」は、お客様の入力通りになりますので、ご希望の表記で入力をお願いします。

※ お支払いは銀行振込、クレジット決済も可能です。銀行振込でお支払いの場合、開催月の翌月末までにお支払いください。お支払いの際は、社名の前に請求書番号をご入力ください。

※ 領収書のご要望があれば、お申込み時、領収書要にチェックを入れてください。

※ 2名以上でお申し込みをされた場合は、受講票と請求書を代表者様にご連絡します。

※ 当講座では、同一部署の申込者様からのご紹介があれば、何名でもお1人につき22,000円で追加申し込みいただけます (申込者様は正規料金、お2人目以降は22,000円となります)。追加の際は、申し込まれる方が追加の方を取りまとめいただくか、申込時期が異なる場合は紹介者様のお名前を備考欄にお書きくださいますようお願いいたします。

※ なお、ご参加手続きの際、自宅住所やフリーアドレス、個人携帯番号のみで登録された場合は、ご所属確認をさせいただくことがございます。


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